| 下載文件詳細(xì)資料 | |
| 文件名稱(chēng)： | AT270高精度超聲波測(cè)厚儀使用說(shuō)明書(shū) |
| 公司名稱(chēng)： | 北京時(shí)代光南檢測(cè)技術(shù)有限公司 |
| 下載次數(shù)： | 520 |
| 文件詳細(xì)說(shuō)明： | |
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ATX350精密超聲波測(cè)厚儀采用單晶延遲探頭，利用多次回波提高精度，使分辨率可達(dá)0.001mm，測(cè)量下限達(dá)0.15mm；示值誤差±0.005mm(3mm以下)/±0.05mm(20mm以下)。ATX350精密超聲波測(cè)厚儀具有普通和精密兩種工作模式。普通模式采用界面波-回波法，測(cè)量范圍是1.5mm～20mm；精密模式采用回波-回波法，測(cè)量范圍是 0.15mm～10mm。可對(duì)各種板材和各種加工零件作精確測(cè)量。可廣泛應(yīng)用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天、特檢院等各個(gè)領(lǐng)域。
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