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時代TIME2601覆層測厚儀
日期：2025-07-14 11:40
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摘要： 時代TIME2601覆層測厚儀是一種便攜式測量儀，它能快速、無損傷、精密地進行涂、鍍層厚度的測量。既可用于實驗室，也可用于工程現(xiàn)場。通過使用不同的測頭，還可滿足多種測量的需要。本儀器符合以下標準：GB/T 4956─1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測量 磁性方法GB/T 4957─1985 非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量 渦流方法JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測量儀JJG 889─95 《磁阻法測厚儀》JJG 818─93 《電渦流式測厚儀》。可以廣泛地應用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領域。
時代TIME2601覆層測厚儀概述
時代TIME2601覆層測厚儀是一種便攜式測量儀，它能快速、無損傷、精密地進行涂、鍍層厚度的測量。既可用于實驗室，也可用于工程現(xiàn)場。通過使用不同的測頭，還可滿足多種測量的需要。本儀器符合以下標準：GB/T 4956─1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測量 磁性方法GB/T 4957─1985 非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量 渦流方法JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測量儀JJG 889─95 《磁阻法測厚儀》JJG 818─93 《電渦流式測厚儀》。可以廣泛地應用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領域。
時代TIME2601覆層測厚儀功能特點
- 采用了磁性和渦流兩種測厚方法，即可測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度又可測量非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度；
- 可使用8種測頭(F400、F1、F1/90°、F3、F5、F10、N1、CN02)；
- 具有兩種測量方式：連續(xù)測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）；
- 具有兩種工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(A-B)；
- 設有五個統(tǒng)計量：平均值（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、測量次數(shù)（NO．）、標準偏差（S．DEV）；
- 可采用兩種方法對儀器進行校準，并可用基本校準法對測頭的系統(tǒng)誤差進行修正；
- 具有存貯功能：可存貯640個測量值；
- 具有刪除功能：對測量中出現(xiàn)的單個可疑數(shù)據(jù)進行刪除，也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)，以便進行新的測量；
- 可設置限界：對限界外的測量值能自動報警；并可用直方圖對一批測量值進行分析；
- 具有打印功能：可打印測量值、統(tǒng)計值、限界、直方圖；
- 具有電源欠壓指示功能；
- 操作過程有蜂鳴聲提示；
- 具有錯誤提示功能，通過屏顯或蜂鳴聲進行錯誤提示；
- 設有兩種關機方式：手動關機方式和自動關機方式；
時代TIME2601覆層測厚儀技術參數(shù)
- 測頭類型：可選，見涂層測厚儀探頭參數(shù)表
- 測量原理：磁感應和電渦流
- 測量范圍：0-1250um | 0-1250um 0-40um(銅上鍍鉻)
- 低限分辨力：0.1um
- 探頭連接方式：分體
- 示值誤差：F | N
- 1. 一點校準(um)：±[3%H+1]
-
- 2. 兩點校準(um)：±[（1%~3%）H+1]
-
- 3. 一點校準(um)：±[3%H+1.5]
-
- 4. 兩點校準(um)：±[（1%~3%）H+1.5]
- 測量條件：F | N
- 1. 最小曲率半徑(mm)：凸1.5 | 凹9
-
- 2. 基體最小面積的直徑(mm)：ф7
-
- 3. 最小臨界厚度(mm)：0.5
-
- 4. 最小曲率半徑(mm)：凸3 | 凹10
-
- 5. 基體最小面積的直徑(mm)：ф5
-
- 6. 最小臨界厚度(mm)：0.3
- 溫濕度：0~40℃ | 20%RH～90%RH
- 統(tǒng)計功能：平均值、最大值（MAX）、最小值（MIN）、測試次數(shù)（NO．）、標準偏差
- 工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)
- 測量方式：連續(xù)測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）
- 上下限設置：有
- 存儲能力：640個測量值
- 關機方式：手動和自動
- 電源：充電電池
時代TIME2601涂層測厚儀探頭參數(shù)
| 測頭型號 | F400 | F1 | F1/90° | F3 | F5 | F10 | N1 | CN02 | ||
| 測量范圍(um) | 0～400 | 0～1250 | 0～1250 | 0-3000 | 0-5000 | 0～10000 | 0～1250(銅上鍍鉻0～40) | 10～200 | ||
| 低限分辨力(um) | 0.1 | 0.1 | 0.1 | 1 | 1 | 10 | 0.1 | 1 | ||
| 示值 | 一點校準(um) | ±(3%H+1) | ±(3%H+1) | ±(3%H+1) | ±(3%H+1) | ±(3%H+10) | ±(3%H+1.5) | ±(3%H+1) | ||
| 誤差 | 二點校準(um) | ±((1～3)%H+0.7) | ±((1～3)%H+1) | ±((1～3)%H+3) | ±((1～3)%H+5) | ±((1～3)%H+10) | ±[(1～3)%H+1.5] | |||
|
測 試 條 件 |
zui小曲率半徑(mm) | 凸 | 1 | 1.5 | 平直 | 10 | 3 | 僅為平直 | ||
| zui小面積的直徑(mm) | F3 | F7 | F7 | F40 | F5 | F7 | ||||
| 基體臨界厚度(mm) | 0.2 | 0.5 | 0.5 | 2 | 0.3 | 無限制 | ||||
注：H——標稱值
測頭選用參考表：
測頭選用參考表：
|
覆蓋層 基體 |
有機材料等非磁性覆蓋層（如漆料、涂漆、琺瑯、搪瓷、塑料和陽極化處理等） |
非磁性的有色金屬的覆層 （如鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等） |
|||
| 覆蓋層厚度不超過100μm | 覆蓋層厚度超過100μm | 覆蓋層厚度不超過100μm | 覆蓋層厚度超過100μm | ||
| 如鐵、鋼等磁性金屬 | 被測面積的直徑大于30mm |
F1型測頭0-1250μm F400型測頭0-400μm |
F1型測頭0-1250μm F10型測頭0-10mm |
F400型測頭0-400μm F1型測頭0-1250μm |
F1型測頭0-1250μm F10型測頭0-10mm |
| 被測面積的直徑小于30mm | F400型測頭0-400μm |
F1型測頭0-1250μm F400型測頭0-400μm |
F400型測頭0-400μm |
F400型測頭0-400μm F1型測頭0-1250μm |
|
| 如銅、黃銅、鋁、鋅、錫等有色金屬 | 被測面積的直徑大于5mm | N1型測頭0-1250μm | N1型測頭只能測銅上鍍鉻0-40μm | ||
| 塑料、印刷線路板等非金屬基體 | 被測面積的直徑小于7mm | - | - |
CN02型測頭10-200μm （主要用途測銅箔厚度） |
|
時代TIME2601覆層測厚儀基本配置
- 時代TIME2601涂層測厚儀主機
- 打印機
- F頭或N頭
- 標準片一套
- 鐵基體或鋁基體
- 充電器
- 使用說明書
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