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涂層測(cè)厚儀使用環(huán)境的要求
日期：2025-07-17 00:58
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摘要：涂層測(cè)厚儀的使用環(huán)境
用作檢測(cè)金屬表面涂層或者鍍層厚度的 測(cè)厚儀 ，我們稱(chēng)之為 涂層測(cè)厚儀 ，而通常我們說(shuō)的涂層測(cè)厚儀指的是我們常用的磁性涂層測(cè)厚儀，區(qū)別于 渦流測(cè)厚儀 。總結(jié)我們經(jīng)營(yíng)過(guò)程中碰到的常見(jiàn)問(wèn)題，下面我們?yōu)榇蠹艺f(shuō)下磁性涂層測(cè)厚儀的工作特點(diǎn)及容易受影響的原因：
磁性涂層測(cè)厚儀根據(jù)工作原理：
位于部件表面的探頭產(chǎn)生一個(gè)閉合的磁回路，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的改變，引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以**地測(cè)量探頭與鐵磁性材料間的距離，即涂/鍍層厚度。
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涂層測(cè)厚儀的使用環(huán)境
用作檢測(cè)金屬表面涂層或者鍍層厚度的 測(cè)厚儀 ，我們稱(chēng)之為 涂層測(cè)厚儀 ，而通常我們說(shuō)的涂層測(cè)厚儀指的是我們常用的磁性涂層測(cè)厚儀，區(qū)別于 渦流測(cè)厚儀 。總結(jié)我們經(jīng)營(yíng)過(guò)程中碰到的常見(jiàn)問(wèn)題，下面我們?yōu)榇蠹艺f(shuō)下磁性涂層測(cè)厚儀的工作特點(diǎn)及容易受影響的原因：
磁性涂層測(cè)厚儀根據(jù)工作原理：
位于部件表面的探頭產(chǎn)生一個(gè)閉合的磁回路，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的改變，引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以**地測(cè)量探頭與鐵磁性材料間的距離，即涂/鍍層厚度。
由于工作原理，因此涂層測(cè)厚儀在使用時(shí)，對(duì)環(huán)境也有一定要求，涂層測(cè)厚儀在檢測(cè)時(shí)，易受測(cè)量基體磁化、厚度，測(cè)量物件的曲率等多做因素影響，如何解決這類(lèi)問(wèn)題，以下我們?yōu)榇蠹易鰝€(gè)簡(jiǎn)單的說(shuō)明：
影響測(cè)量的若干因素：
1、基體金屬磁化
磁性法測(cè)量受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的）。為了避免熱處理、冷加工等因素的影響，應(yīng)使用與鍍件金屬具有相同性質(zhì)的鐵基片上對(duì)儀器進(jìn)行校對(duì)。
2、基體金屬厚度
每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度，大于這個(gè)厚度測(cè)量就不受基體厚度的影響。
3、邊緣效應(yīng)
本儀器對(duì)試片表面形狀的陡變敏感，因此在靠近試片邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。
4、（1）曲率
試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響，這種影響是隨著曲率半徑減小明顯增大。因此不應(yīng)在試件超過(guò)允許的曲率半徑的彎曲面上測(cè)量。
（2） 表面粗糙度
基體金屬和表面粗糙度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙度增大，影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差。每次測(cè)量時(shí)，在不同位置上增加測(cè)量的次數(shù)，克服這種偶然誤差。
如果基體金屬粗糙還必須在未涂覆的粗糙相類(lèi)似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn)；或用沒(méi)有腐蝕性的溶液除去在基體金屬上的覆蓋層，再校對(duì)儀器零點(diǎn)。
（3）磁場(chǎng)
注意：周?chē)鞣N電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng)，會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性測(cè)量厚度的工作。
5、附著物質(zhì)
本儀器對(duì)那些妨礙探頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感。因此必須**附著物質(zhì)，以保證探頭與覆蓋層表面直接接觸。
探頭的放置
探頭的放置方式對(duì)測(cè)量有影響，在測(cè)量中使探頭與試樣表面保持垂直。
試片的變形
探頭使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上會(huì)出現(xiàn)不太可靠的數(shù)據(jù)。
讀數(shù)次數(shù)
通常儀器的每次讀數(shù)并不完全相同。因此必須在每一測(cè)量面積內(nèi)取幾個(gè)測(cè)量值，覆蓋層厚度的局部差異，也要求在給定的面積內(nèi)進(jìn)行測(cè)量，表面粗糙時(shí)更應(yīng)如此。
用作檢測(cè)金屬表面涂層或者鍍層厚度的 測(cè)厚儀 ，我們稱(chēng)之為 涂層測(cè)厚儀 ，而通常我們說(shuō)的涂層測(cè)厚儀指的是我們常用的磁性涂層測(cè)厚儀，區(qū)別于 渦流測(cè)厚儀 。總結(jié)我們經(jīng)營(yíng)過(guò)程中碰到的常見(jiàn)問(wèn)題，下面我們?yōu)榇蠹艺f(shuō)下磁性涂層測(cè)厚儀的工作特點(diǎn)及容易受影響的原因：
磁性涂層測(cè)厚儀根據(jù)工作原理：
位于部件表面的探頭產(chǎn)生一個(gè)閉合的磁回路，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的改變，引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以**地測(cè)量探頭與鐵磁性材料間的距離，即涂/鍍層厚度。
由于工作原理，因此涂層測(cè)厚儀在使用時(shí)，對(duì)環(huán)境也有一定要求，涂層測(cè)厚儀在檢測(cè)時(shí)，易受測(cè)量基體磁化、厚度，測(cè)量物件的曲率等多做因素影響，如何解決這類(lèi)問(wèn)題，以下我們?yōu)榇蠹易鰝€(gè)簡(jiǎn)單的說(shuō)明：
影響測(cè)量的若干因素：
1、基體金屬磁化
磁性法測(cè)量受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的）。為了避免熱處理、冷加工等因素的影響，應(yīng)使用與鍍件金屬具有相同性質(zhì)的鐵基片上對(duì)儀器進(jìn)行校對(duì)。
2、基體金屬厚度
每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度，大于這個(gè)厚度測(cè)量就不受基體厚度的影響。
3、邊緣效應(yīng)
本儀器對(duì)試片表面形狀的陡變敏感，因此在靠近試片邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。
4、（1）曲率
試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響，這種影響是隨著曲率半徑減小明顯增大。因此不應(yīng)在試件超過(guò)允許的曲率半徑的彎曲面上測(cè)量。
（2） 表面粗糙度
基體金屬和表面粗糙度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙度增大，影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差。每次測(cè)量時(shí)，在不同位置上增加測(cè)量的次數(shù)，克服這種偶然誤差。
如果基體金屬粗糙還必須在未涂覆的粗糙相類(lèi)似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn)；或用沒(méi)有腐蝕性的溶液除去在基體金屬上的覆蓋層，再校對(duì)儀器零點(diǎn)。
（3）磁場(chǎng)
注意：周?chē)鞣N電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng)，會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性測(cè)量厚度的工作。
5、附著物質(zhì)
本儀器對(duì)那些妨礙探頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感。因此必須**附著物質(zhì)，以保證探頭與覆蓋層表面直接接觸。
探頭的放置
探頭的放置方式對(duì)測(cè)量有影響，在測(cè)量中使探頭與試樣表面保持垂直。
試片的變形
探頭使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上會(huì)出現(xiàn)不太可靠的數(shù)據(jù)。
讀數(shù)次數(shù)
通常儀器的每次讀數(shù)并不完全相同。因此必須在每一測(cè)量面積內(nèi)取幾個(gè)測(cè)量值，覆蓋層厚度的局部差異，也要求在給定的面積內(nèi)進(jìn)行測(cè)量，表面粗糙時(shí)更應(yīng)如此。
